XRD، مخفف پراش اشعه ایکس است، به عنوان یک شخص مادی، صرف نظر از اینکه چه ماده ای انجام می شود، XRD رایج ترین و اساسی ترین وسیله برای توصیف است.

هنگامی که یک پرتو پرتو ایکس بسیار نازک از ماده ای با چگالی الکترونی ناهموار به اندازه نانومتر عبور می کند، پرتوهای ایکس در یک ناحیه زاویه ای کوچک نزدیک به جهت پرتو اصلی پخش می شوند، این پدیده با زاویه کوچک X نامیده می شود. پراکندگی اشعه

پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک، پراکندگی پراکنده الکترون ها به اشعه ایکس در محدوده زاویه کوچک نزدیک پرتو اصلی است. پراکندگی با زاویه کوچک در همه مواد با چگالی الکترونی غیریکنواخت در مقیاس نانومتری رخ می دهد.

پراش پرتو ایکس با زاویه کوچک (SAXD) عمدتاً برای تعیین فاصله صفحات کریستالی بسیار بزرگ یا ساختار لایه‌های نازک استفاده می‌شود.

استفاده از اشعه ایکس برای مطالعه ساختار کریستال ها عمدتاً از طریق پدیده پراش اشعه ایکس در کریستال.

تکنیک پراش اشعه ایکس یک روش تحلیلی است که برای مطالعه ساختار یک ماده استفاده می شود. با اندازه گیری زاویه پراش اشعه ایکس در کریستال، ساختار یک کریستال را تعیین می کند.

XRD درجا که به نام پراش پرتو ایکس درجا نیز شناخته می‌شود، تکنیکی برای اندازه‌گیری پراش اشعه ایکس در طول یک ساختار یا انتقال فاز است. این فناوری می تواند تغییرات دینامیکی ساختار ماده تحت نیروی خارجی را در زمان واقعی نظارت کند.

که در-درجا XRD یکی از محبوب‌ترین و توسعه‌یافته‌ترین تکنیک‌های شناسایی پیشرفته برای مطالعه سیستم‌های باتری لیتیوم-یون و سدیم-یون در فرآیندهای الکتروشیمیایی است.

فناوری XRD نقش مهمی در تحقیق و توسعه مواد سرامیکی ایفا می کند. این یک پایه علمی قابل اعتماد برای سنتز، بهینه سازی فرآیند آماده سازی، بهبود عملکرد و محبوبیت کاربرد مواد سرامیکی فراهم می کند.

به دلیل پیچیدگی فازهای معدنی در مخلوط و قله های قابل توجه همپوشانی، تعیین کمی فازهای آمورف و کریستالی مواد سیمانی دشوار است. نتایج عالی را می توان با پالایش رایتولد نمونه اندازه گیری شده با استفاده از تنظیمات اندازه گیری استاندارد به دست آورد.

در تحقیقات علم مواد، پراش اشعه ایکس (XRD) یک روش تجربی مهم است. از طریق داده های XRD می توانیم اطلاعاتی مانند اندازه دانه، اعوجاج شبکه و چگالی نابجایی را به دست آوریم.