طیف‌سنجی جذب پرتو ایکس یک تکنیک طیفی برای تجزیه و تحلیل ترکیب عنصری و حالت‌های الکترونیکی مواد با استفاده از تغییرات سیگنال قبل و بعد از برخورد پرتوهای ایکس تابش سنکروترون است.

تابش سنکروترون تابش الکترومغناطیسی است که در امتداد جهت مماس مدار هنگام حرکت الکترون در منحنی با سرعت بالا تولید می شود که می تواند برای انجام بسیاری از تحقیقات علمی و فناوری پیشرفته مورد استفاده قرار گیرد.

در حال حاضر، XAFS در بسیاری از زمینه ها، به ویژه در زمینه کاتالیزور و تحقیقات مواد باتری، به کار گرفته شده است و به یک روش مشخص دقیق مهم تبدیل شده است.

هنگامی که از مواد گرافیتی به عنوان مواد الکترود منفی برای باتری های لیتیومی استفاده می شود، یکی از شرایط لازم برای درجه گرافیت شدن است.

در سال 1912، لاو و همکاران. توسط تئوری پیش‌بینی شد و با آزمایش تأیید شد که پراش می‌تواند زمانی رخ دهد که پرتو ایکس با کریستال برخورد می‌کند و ثابت می‌کند که پرتو ایکس دارای خاصیت موج الکترومغناطیسی است، که اولین نقطه عطف در پراش پرتو ایکس شد.

پراش اشعه ایکس یک تکنیک تحلیلی غیر مخرب متداول است که می تواند برای آشکار ساختن ساختار کریستالی، ترکیب شیمیایی و خواص فیزیکی مواد مورد استفاده قرار گیرد.

پراش اشعه ایکس، از طریق پراش اشعه ایکس یک ماده، تجزیه و تحلیل الگوی پراش آن، برای به دست آوردن ترکیب ماده، ساختار یا شکل اتم ها یا مولکول های داخل ماده و سایر ابزارهای تحقیقاتی.

ماده ای که خواص آن تحت تأثیر اثرات دو بعدی است، خواص ماده در مقیاس دو بعدی با خواص آن در مقیاس بزرگتر متفاوت است.

با توجه به موقعیت و تغییرات شدت پیک های پراش درجا، واسطه های تولید شده در طول چرخه را می توان استنباط کرد و مکانیسم واکنش را می توان بیشتر از این واسطه ها استخراج کرد.

پراش اشعه ایکس در تمام مراحل کنترل کیفیت دارو، مانند مطالعه مواد خام و آماده سازی، انجام می شود.

تنش پسماند تاثیر زیادی بر پایداری ابعادی، مقاومت در برابر خوردگی تنش، استحکام خستگی، تغییر فاز و سایر خواص مواد و اجزا دارد. اندازه گیری آن به طور گسترده توسط دانشگاه و صنعت مورد توجه قرار گرفته است.

اخیراً، یک مطالعه جدید با موفقیت اکسیدهای فلزی را با زئولیت A ذوب کرد و رمز و راز این فرآیند را از طریق فناوری XRD و FTIR فاش کرد.