ساختار ریز جذب اشعه ایکس

ساختار ظریف جذب پرتو ایکس (XAFS) که به آن طیف‌سنجی جذب پرتو ایکس (ایکس ای اس) نیز گفته می‌شود، ابزاری قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی موضعی مواد بر اساس منبع نور تابش سینکروترون است و به طور گسترده در زمینه‌های داغ مانند کاتالیز، انرژی و نانو استفاده می‌شود. 

مزیت اصلی:

1. بالاترین محصولات شار نوری

شار فوتونی بالاتر از 1,000,000 فوتون بر ثانیه بر الکترون ولت است و راندمان جمع‌آوری طیفی چندین برابر سایر محصولات است؛ کیفیت داده‌ای مشابه رادیو سینکروترون را دریافت کنیدمنانجمن

2. پایداری عالی

پایداری شدت نور تک‌رنگ منبع نور بهتر از 0.1٪ است و رانش انرژی اکتساب مکرر کمتر از 50 meV است.

حد تشخیص ۳.۱٪

شار نوری بالا، بهینه‌سازی عالی مسیر نوری و پایداری عالی منبع نور، داده‌های EXAFS با کیفیت بالا را با محتوای عنصر اندازه‌گیری شده ههههه1% تضمین می‌کند.

اصل ابزار

ساختار ریز جذب اشعه ایکس (XAFS) ابزاری قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی موضعی مواد است که به طور گسترده در کاتالیز، انرژی، نانو و سایر زمینه‌های داغ مورد استفاده قرار می‌گیرد.

                                                                          مونوکروماتور آزمایشگاهی ایکس ای اس ساختارهای هندسی را آزمایش می‌کند.

                                                                 داده‌های منگنز، داده‌های XAFS لبه K منگنز، داده‌های سازگار با منبع تابش سینکروترون

                                                        داده‌های طیف نشری نمونه آهن Kβ: ایکس ای اس هسته به هسته و ایکس ای اس ظرفیت به هسته

داده‌های تست

داده‌های EXAFS فویل

عناصر قابل اندازه‌گیری: بخش سبز می‌تواند سمت K و بخش زرد می‌تواند سمت L را اندازه‌گیری کند.

زمینه‌های کاربردی: کاتالیز صنعتی، مواد ذخیره انرژی، نانومواد، سم‌شناسی محیطی، همچنین آنالیز کیفیت، آنالیز عناصر سنگین و غیره