


طیفسنج XAFS با شار فوتون بر ثانیه/الکترونولت >4M به کیفیت دادههای سطح سینکروترون دست مییابد.<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
پست الکترونیکبیشتر
۱.XAFS ابزاری قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی موضعی مواد است. ۲. زمینههای کاربرد XAFS: کاتالیز صنعتی، نانومواد، همچنین آنالیز کیفیت، آنالیز عناصر سنگین و غیره مزیت محصول XAFS: وضوح فوقالعاده بالا (به کمی 0.5eV)، الگوی فلورسانس (پایه پشتی با محتوای کم)، شار نوری فوقالعاده بالا، حد تشخیص فوقالعاده پایین (به کمی 0.3-0.5%، 10.1039/D2CC05081A)
پست الکترونیکبیشتر