پراش قیمت,پراش مارک های,پراش نقل قول,پراش شرکت,تخفیف پراش,پراش تبلیغات

نگهدارنده نمونه چند منظوره، آنالیز مستقیم پراش اشعه ایکس (XRD) نمونه‌های نامنظم، فله‌ای و میکروپودری را بدون آماده‌سازی مخرب امکان‌پذیر می‌کند. با استفاده از سه نظام خلاء و گیره‌های قابل تنظیم، موقعیت‌یابی دقیق را تضمین می‌کند. ایده‌آل برای تحقیقات مواد پیشرفته، داروسازی و زمین‌شناسی.

اتصال فیلم نازک، آنالیز دقیق XRD از فیلم‌های نانومتری/میکرومتری را امکان‌پذیر می‌کند که برای نیمه‌هادی‌ها، پوشش‌ها و پلیمرها ایده‌آل است. این دستگاه سیگنال را تقویت می‌کند، تداخل زیرلایه را کاهش می‌دهد و از اسکن پرسرعت پشتیبانی می‌کند که به طور گسترده در تحقیق و توسعه و کنترل کیفیت با پراش‌سنج‌های سری TD استفاده می‌شود.

این دستگاه مجهز به استفاده از پراش‌سنج اشعه ایکس است که نوعی لوازم جانبی پراش‌سنج محسوب می‌شود. این ماده به طور گسترده در سیستم‌های الکتروشیمیایی حاوی کربن، اکسیژن، نیتروژن، گوگرد، لایه لایه شدن فلزات و غیره استفاده می‌شود.

دستگاه پراش زاویه کوچک داندونگ تونگدا، ضخامت لایه‌های نانو (محدوده 0 تا 5 درجه) را با دقت اندازه‌گیری می‌کند. این دستگاه که کاملاً با پراش‌سنج‌های سری TD سازگار است، راحتی نصب و استفاده آسان و تکرارپذیری 0.0001 درجه را ارائه می‌دهد و تحقیقات در زمینه انرژی‌های نو و نیمه‌رساناها را توانمند می‌سازد.

نام: مونوکروماتور کریستالی منحنی گرافیتی. ۲. کاربرد: لوازم جانبی پراش‌سنج. ۳. عملکرد: افزایش نسبت برگشت پیک و وضوح پیک ضعیف، کاهش زاویه پراش.

1. دقت بالای لوازم جانبی دما. ۲. لوازم جانبی دما بادوام هستند و عمر طولانی دارند. ۳. به منظور درک تغییر ساختار بلوری نمونه در فرآیند تبرید در دمای پایین.

۱.نام: نگهدارنده نمونه چرخان. ۲. کاربرد: لوازم جانبی پراش‌سنج. ۳. عملکرد: تکرارپذیری خوب قدرت پراش و جهت گیری ترجیحی را حذف می کند.

لوازم جانبی اندازه‌گیری لایه نازک از شرکت داندونگ تونگدا فناوری با ترکیب صفحات توری بلندتر، عملکرد را بهبود می‌بخشد. این طراحی به طور مؤثر تابش پراکنده را فیلتر می‌کند و تداخل سیگنال‌های زیرلایه را کاهش می‌دهد و در عین حال سیگنال‌های پراش لایه نازک را به طور قابل توجهی تقویت می‌کند.

دستگاه آنالیز تنش پسماند پرتو ایکس قابل حمل، یک دستگاه آزمایش غیرمخرب مبتنی بر فناوری پراش پرتو ایکس است. این دستگاه عمدتاً برای اندازه‌گیری توزیع تنش پسماند سطحی و نزدیک به سطح در موادی مانند فلزات و پلاستیک‌ها استفاده می‌شود و دقت بالا را با قابلیت انطباق میدانی ترکیب می‌کند.

طیف‌سنج XAFS با شار فوتون بر ثانیه/الکترون‌ولت >4M به کیفیت داده‌های سطح سینکروترون دست می‌یابد.<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.