XRD با وضوح بالا (منابع انسانی-XRD) یک روش رایج برای اندازه گیری ترکیب و ضخامت نیمه هادی های ترکیبی مانند SiGe، AlGaAs، InGaAs و غیره است.

پراش سنج اشعه ایکس (XRD) را می توان به پراش سنج پودر اشعه ایکس و پراش سنج تک کریستالی اشعه ایکس تقسیم کرد، اصل فیزیکی اساسی این دو یکسان است.

فلورسانس بازتابی کامل اشعه ایکس (TXRF) یک تکنیک تجزیه و تحلیل عناصر سطحی است که معمولاً برای تجزیه و تحلیل ذرات، باقیمانده‌ها و ناخالصی‌ها روی سطوح صاف استفاده می‌شود.

XRD وسیله ای برای تحقیق است که پراش پرتو ایکس یک ماده برای تجزیه و تحلیل الگوی پراش آن برای به دست آوردن اطلاعاتی مانند ترکیب ماده، ساختار یا شکل اتم ها یا مولکول های داخل ماده است.

پراش اشعه ایکس با وقوع چرا (GI-XRD) نوعی روش پراش اشعه ایکس است که با آزمایش XRD سنتی، عمدتاً با تغییر زاویه تابش اشعه ایکس و جهت گیری نمونه متفاوت است.

در سال‌های اخیر، تکنیک پراکندگی زاویه کوچک پرتو ایکس در ماکرومولکول‌های بیولوژیکی به طور گسترده مورد توجه قرار گرفته است. این مقاله عمدتاً به معرفی پیشرفت های مربوط به ترکیب زاویه کوچک بیولوژیکی و سایر تکنیک ها در سال های اخیر می پردازد.

کاهش تنش پسماند مضر و پیش بینی روند توزیع و ارزش تنش پسماند ضروری است. در این مقاله روش تست غیر مخرب آزمون تنش پسماند معرفی شده است.

آزمایش غیر مخرب مبتنی بر توسعه علم و فناوری مدرن است. با توسعه صنعت مدرن، استفاده از تست های غیر مخرب روز به روز محبوبیت بیشتری پیدا می کند.

پراش اشعه ایکس (XRD) در حال حاضر یک روش قدرتمند برای مطالعه ساختار بلوری (مانند نوع و مکان توزیع اتم ها یا یون ها و گروه های آنها، شکل و اندازه سلول و غیره) است.

کریستالوگرافی اشعه ایکس تکنیکی است که برای تعیین ساختار اتمی و مولکولی یک کریستال استفاده می شود، جایی که ساختار کریستالی باعث می شود پرتو اشعه ایکس فرودی به جهات خاص پراکنده شود.