استفاده از فناوری‌های جدید و محصولات جدید مانند 5G، داده‌های بزرگ و هوش مصنوعی تقاضای عظیمی را در بازار نیمه‌رسانا به همراه خواهد داشت و هزینه‌های جهانی تجهیزات نیمه‌رسانا وارد چرخه صعودی شده است.

XRD با وضوح بالا (منابع انسانی-XRD) یک روش رایج برای اندازه گیری ترکیب و ضخامت نیمه هادی های ترکیبی مانند SiGe، AlGaAs، InGaAs و غیره است.

پراش سنج اشعه ایکس (XRD) را می توان به پراش سنج پودر اشعه ایکس و پراش سنج تک کریستالی اشعه ایکس تقسیم کرد، اصل فیزیکی اساسی این دو یکسان است.

XRD وسیله ای برای تحقیق است که پراش پرتو ایکس یک ماده برای تجزیه و تحلیل الگوی پراش آن برای به دست آوردن اطلاعاتی مانند ترکیب ماده، ساختار یا شکل اتم ها یا مولکول های داخل ماده است.

پراش اشعه ایکس با وقوع چرا (GI-XRD) نوعی روش پراش اشعه ایکس است که با آزمایش XRD سنتی، عمدتاً با تغییر زاویه تابش اشعه ایکس و جهت گیری نمونه متفاوت است.

پراش اشعه ایکس (XRD) در حال حاضر یک روش قدرتمند برای مطالعه ساختار بلوری (مانند نوع و مکان توزیع اتم ها یا یون ها و گروه های آنها، شکل و اندازه سلول و غیره) است.

بر اساس قانون براگ، پراش پرتو ایکس درجا (XRD) می‌تواند برای نظارت بر تغییر فاز و پارامترهای شبکه آن در رابط الکترود یا الکترود-الکترولیت در زمان واقعی در طول چرخه شارژ-دشارژ استفاده شود. باتری

پراش اشعه ایکس، از طریق پراش اشعه ایکس یک ماده، تجزیه و تحلیل الگوی پراش آن، برای به دست آوردن ترکیب ماده، ساختار یا شکل اتم ها یا مولکول های داخل ماده و سایر ابزارهای تحقیقاتی.

برخی از "نرم افزار یشم برای تجزیه و تحلیل و پردازش داده های XRD" محتوای مرتبط.

امروز اطلاعاتی در مورد "تجزیه و تحلیل نرم افزار یشم و پردازش داده های XRD" به اشتراک می گذاریم.

این مقاله عمدتاً برخی از مسائل مربوط به "تجزیه و تحلیل نرم افزار یشم و پردازش داده های XRD" را به اشتراک می گذارد.