GIWAXS تکنیکی برای توصیف ریزساختار داخلی نمونه های لایه نازک است. اندازه ساختار مربوطه بین 10 نانومتر و 1 میلی متر است، بنابراین به طور گسترده برای مشخص کردن تبلور در سلول های لایه نازک خورشیدی استفاده می شود.
برای فیلم های سلول خورشیدی آلی که شبکه ثابتی ندارندساختارGIWAXS بر مشخص کردن جهت و نسبت کریستال های داخل فیلم ها تمرکز دارد. مثال: شکل 3
فناوری GIWAXS دو مزیت دیگر سلولهای خورشیدی لایه نازک را مشخص میکند: میتوان عمق نمونه نفوذ شده را با کنترل زاویه پرتو فرودی تنظیم کرد تا به هدف مشخصسازی لایهای دست یافت. ثانیا، GIWAXS برای آزمایش درجا باتری های فیلم نازک مناسب است و زمان تست کوتاه است.
به طور خلاصه، GIWAXS طیف وسیعی از کاربردها در توصیف مورفولوژی سلولهای خورشیدی لایه نازک دارد و میتواند برای مشخص کردن فرآیند تشکیل کریستال در داخل لایه نازک و همچنین جهت کریستال، اندازه شبکه و نیز مورد استفاده قرار گیرد.کریستالنسبت، ارائه پشتیبانی فنی برای بهینه سازی ساختار داخلی سلول های لایه نازک.