اخبار شرکت

XAFS، به عنوان یک تکنیک توصیفی پیشرفته برای تجزیه و تحلیل ساختار محلی مواد، می تواند اطلاعات هماهنگی ساختار اتمی دقیق تری را در محدوده ساختاری کوتاه برد نسبت به پراش کریستالی اشعه ایکس ارائه دهد.

ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS) یک ابزار قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد بر اساس منبع نور تشعشع سنکروترون است.

روز زن مبارک! در این جشنواره شاد، می توانید تعطیلات شاد و خوبی داشته باشید! از خودت لذت ببر، راحت باش و استراحت کن! امیدوارم بتوانید هر روز شاد باشید، همیشه خلق و خوی خوبی داشته باشید!

به منظور نشان دادن سبک خوب توسعه شدید شرکت داندونگ تونگدا، افزایش دوستی و افزایش انسجام، این شرکت یک فعالیت ساختمانی گروهی را از 30 تا 31 ژانویه 2024 برگزار کرد.

طیف سنجی پراش اشعه ایکس عمدتاً حالت کریستالی و ریزساختار مواد را تجزیه و تحلیل می کند و دو روش اندازه گیری پراش پرتو ایکس برای آنالیز کریستال وجود دارد.

ابزار جهت گیری خودکار اشعه ایکس یک ابزار ضروری برای پردازش دقیق و ساخت دستگاه های کریستالی است. به طور گسترده ای در تحقیق، پردازش و ساخت مواد کریستالی استفاده می شود.

ترکیب الگوی پراش عمدتاً موقعیت و شدت پیک پراش است و تحلیل ما از الگوی XRD بر اساس تغییرات شدت و موقعیت برای توضیح تغییرات در میکرو و ماکرو ماده است.

پراش سنج اشعه ایکس ابزار دقیقی است که برای مطالعه ساختار بلوری، مورفولوژی و خواص ماده استفاده می شود. در طول فرآیند بسته بندی و حمل و نقل، باید اقدامات خاصی انجام شود تا اطمینان حاصل شود که ایمنی و عملکرد ابزار تحت تأثیر قرار نمی گیرد.