news

طیف‌سنجی جذب اشعه ایکس (ایکس ای اس) تکنیک اصلی که ساختار اتمی را از طریق جذب اشعه ایکس بررسی می‌کند. زانِس/EXAFS را برای اطلاعات الکترونیکی/هماهنگی تجزیه و تحلیل می‌کند. در مواد، شیمی، زیست‌پزشکی مهارت دارد. پیشرفت‌ها امکان مطالعات درجا را فراهم می‌کنند و برنامه‌های پایداری آینده را هدایت می‌کنند.

طیف‌سنج جذب اشعه ایکس (ایکس ای اس) ساختار مواد را از طریق برهمکنش اشعه ایکس تجزیه و تحلیل می‌کند. این دستگاه انرژی را به طور دقیق برای تحریک عناصر خاص تنظیم می‌کند و داده‌هایی در مورد حالت‌های ظرفیت و ساختار الکترونیکی ارائه می‌دهد. پیشرفت‌های اخیر شامل سری سوپرایکس‌اف‌اس با داده‌های قابل مقایسه با سینکروترون و سیستم‌های رومیزی برای استفاده آزمایشگاهی است. ایکس ای اس به طور گسترده در علوم مواد، شیمی، زیست‌شناسی و پزشکی برای مطالعه ساختارهای کریستالی، مکانیسم‌های واکنش و زیست‌ذرات استفاده می‌شود.

این راهنما جزئیات طراحی آزمایش ایکس ای اس را شرح می‌دهد و بر آماده‌سازی یکنواخت نمونه (مثلاً آسیاب کردن، رقیق‌سازی، جابجایی بی‌اثر) و کنترل دقیق اندازه‌گیری (مثلاً محدوده‌های اسکن، پارامترهای پرتو، میانگین‌گیری داده‌ها) تأکید دارد. اجرای صحیح، داده‌های قابل اعتمادی را در مورد ساختار اتمی محلی، که برای تحقیقات کاتالیز و مواد انرژی حیاتی است، تضمین می‌کند.

ایکس ای اس، یک تکنیک پیشرفته مبتنی بر سینکروترون، جذب اشعه ایکس را برای آشکارسازی حالت‌های الکترونیکی موضعی در مقیاس اتمی و ساختارهای هندسی (از طریق زانِس و EXAFS) به صورت غیرمخرب تجزیه و تحلیل می‌کند و به طور گسترده در تحقیقات مواد و انرژی مورد استفاده قرار می‌گیرد.