این قطعهی فیلم نازک برای پراشسنجهای پرتو ایکس، امکان تجزیه و تحلیل با دقت بالای فیلمها روی زیرلایهها را فراهم میکند. اپتیک بهینهشدهی آن، تداخل زیرلایه را سرکوب میکند و سیگنالهای ضعیف فیلم را برای دادههای قابل اعتماد از نانومتر تا میکرومتر تقویت میکند. این قطعه برای تحقیق و توسعه در الکترونیک، نیمهرساناها و انرژیهای نو ضروری است.