پراش سنج جهانی اشعه ایکس (XRD) به طور پیوسته در سال های اخیر توسعه یافته است و چین بازاری با چشم انداز توسعه بزرگ است.

با در نظر گرفتن مقیاس بندی رسوب به عنوان مثال، این مقاله نحوه استفاده از پراش سنج اشعه ایکس را برای تجزیه و تحلیل فاز کیفی و کمی معرفی می کند.

استفاده از فناوری‌های جدید و محصولات جدید مانند 5G، داده‌های بزرگ و هوش مصنوعی تقاضای عظیمی را در بازار نیمه‌رسانا به همراه خواهد داشت و هزینه‌های جهانی تجهیزات نیمه‌رسانا وارد چرخه صعودی شده است.

معرفی دقیق و کامل پیش فروش، خدمات پس از فروش و خدمات پس از فروش این شرکت که امروز معرفی شد، مطالب مرتبط با آموزش محصولات شرکت ما است.

در سال های اخیر، علاقه فزاینده ای به اندازه گیری نمونه های بیولوژیکی فشار بالا وجود داشته است. این در توسعه تکنیک‌های جدید برای اندازه‌گیری فشار که متفاوت از روش‌های پیاده‌سازی شده توسط DAC است، منعکس می‌شود. یکی از آنها تکنیک انجماد کریستال ها تحت فشار است.

XRD با وضوح بالا (منابع انسانی-XRD) یک روش رایج برای اندازه گیری ترکیب و ضخامت نیمه هادی های ترکیبی مانند SiGe، AlGaAs، InGaAs و غیره است.

پراش سنج اشعه ایکس (XRD) را می توان به پراش سنج پودر اشعه ایکس و پراش سنج تک کریستالی اشعه ایکس تقسیم کرد، اصل فیزیکی اساسی این دو یکسان است.

فلورسانس بازتابی کامل اشعه ایکس (TXRF) یک تکنیک تجزیه و تحلیل عناصر سطحی است که معمولاً برای تجزیه و تحلیل ذرات، باقیمانده‌ها و ناخالصی‌ها روی سطوح صاف استفاده می‌شود.

XRD وسیله ای برای تحقیق است که پراش پرتو ایکس یک ماده برای تجزیه و تحلیل الگوی پراش آن برای به دست آوردن اطلاعاتی مانند ترکیب ماده، ساختار یا شکل اتم ها یا مولکول های داخل ماده است.

پراش اشعه ایکس با وقوع چرا (GI-XRD) نوعی روش پراش اشعه ایکس است که با آزمایش XRD سنتی، عمدتاً با تغییر زاویه تابش اشعه ایکس و جهت گیری نمونه متفاوت است.