طیف پراش اشعه ایکس عمدتاً حالت کریستالی و ریزساختار ماده را تجزیه و تحلیل می کند، زیرا طول موج اشعه ایکسشبیه به ثابت شبکه کریستال است که بر روی ماده کریستالی تابش می شود و الگوی پراش تولید شده توسط تجزیه و تحلیل می تواند ساختار اتمی و نوع کریستال را تعیین کند. دو اندازه گیری پراش اشعه ایکس برایتجزیه و تحلیل کریستال.

1. روش طیف پراش اشعه ایکس،پراش اشعه ایکسساختار اصلی دارای سه بخش است: منبع اشعه ایکس، گونیا، آشکارساز.

معمولاً منبع اشعه ایکس با استفاده از یک پرتو الکترونی برای برخورد با هدف مسی A تولید می شود. اشعه ایکس مشخصه کا توسط یک انتخابگر فرکانس اندازه گیری می شود. طول موج نوری مس-KaX 1.542A است که در نتیجه یکپراش اشعه ایکسطیف الگوی پراش تک کریستال را همانطور که در شکل سمت راست نشان داده شده است در نظر بگیرید. جهت صفحه محصول (400) از زاویه تاج پراش در مقایسه با نمودار استاندارد پراش کریستال پودر بدست می آید. هرچه شدت تاج قوی تر و عرض نیم ارتفاع باریک تر باشد، ویژگی های محصول بهتر است.

2. روش لاو انعکاس پشت اشعه ایکس

روش لاو بازتاب اشعه ایکس طیفی است که با استفاده از آن به دست می آیدتابش اشعه ایکس از کریستال ها تابش اشعه ایکس بر روی یک ویفر تک سیلیکونی ثابت، طبق قانون براگ، پدیده پراش را در زوایای خاصی ایجاد می کند، همانطور که در شکل سمت چپ نشان داده شده است، و الگوی پراش (100) بازتاب تک کریستالی لاو در شکل روی نشان داده شده است. درست. از این روش می توان برای تشخیص جهت کریستالی یک کریستال استفاده کرد.