این پیوست اندازه گیری یکپارچه چند منظوره است برای آنالیز فیلم‌ها روی تخته‌ها، بلوک‌ها و زیرلایه‌ها استفاده می‌شود و می‌تواند آزمایش‌هایی مانند تشخیص فاز کریستالی، جهت‌گیری، بافت، تنش و ساختار درون صفحه لایه‌های نازک را انجام دهد.

ویژگی های عملکردیلوازم جانبی اندازه گیری یکپارچه چند منظوره：

آزمایش نمودار قطبی را با استفاده از روش های انتقال یا بازتاب انجام دهید.

تست استرس را می توان با استفاده از روش شیب موازی یا همان روش شیب انجام داد.

تست لایه نازک (چرخش درون صفحه نمونه ها)

زمینه های کاربردی ازلوازم جانبی اندازه گیری یکپارچه چند منظوره：

ارزیابی ساختارهای مونتاژ فلزی مانند صفحات نورد.

ارزیابی جهت گیری سرامیکی.

ارزیابی جهت گیری اولویت کریستالی در نمونه های لایه نازک.

تست تنش پسماند مواد مختلف فلزی و سرامیکی (ارزیابی مقاومت در برابر سایش، مقاومت برش و غیره)؛

تست استرس باقیمانده فیلم های چند لایه (ارزیابی لایه برداری فیلم و غیره)؛

تجزیه و تحلیل اکسیداسیون سطح و لایه های نیترید بر روی مواد ابررسانا با دمای بالا مانند فیلم های نازک و صفحات فلزی.

شیشه ای سی، تجزیه و تحلیل فیلم های چند لایه روی بسترهای فلزی (لایه های نازک مغناطیسی، فیلم های سخت کننده سطح فلز و غیره).

تجزیه و تحلیل مواد آبکاری مانند مواد ماکرومولکولی، کاغذ و عدسی ها.

مشخصات فنی برایلوازم جانبی اندازه گیری یکپارچه چند منظوره：

محور آلفا (شیب) حداقل فاصله گام: 0.001 درجه / گام، محدوده دینامیکی: - 45 درجه - 90 درجه      

حداقل گام گام محور β (چرخش): 0.001 درجه / پله، محدوده دینامیکی: 0 ° -360 °

حداقل فاصله گام در محور z: 0.001 درجه / گام، محدوده دینامیکی: 0-10 میلی متر

اندازه نمونه: حداکثر قطر 100 میلی متر، ضخامت قابل تنظیم