1.چگونه ساختار آمورف، شبه بلورها و بلورها را در الگوی XRD به طور دقیق تشخیص دهیم؟

پاسخ:هیچ تقسیم بندی دقیقی بین این سه وجود ندارد. درXRDالگوی به دست آمده توسط پراش سنج، الگوی با چندین یا چند باریک مشخص می شود"تیر"که عموماً مستقل از یکدیگر هستند. اگر اینها"قله ها"به طور قابل توجهی گسترده تر هستند، می توان تعیین کرد که اندازه ذرات کریستال ها در نمونه کمتر از 300 نانومتر خواهد بود که می توان آن را نام برد."میکروکریستال ها".

              ویژگی الگوی پراش آمورف این است که تنها یک تغییر ملایم در شدت پراکندگیاشعه ایکسدر کل محدوده زاویه اسکن مشاهده می شود که ممکن است یک تا چند مقدار حداکثر داشته باشد. در ابتدا، چون شدت پرتو نزدیک به پرتو مستقیم است، شدت با افزایش زاویه به سرعت کاهش می‌یابد و شدت زاویه به آرامی به سمت مقدار پس‌زمینه دستگاه متمایل می‌شود.

              این"بی شکل"انتقال بین این دو نوع است"شبه کریستالی"حالت.

2.هنگام انجام پراش اشعه ایکس، اگر از اهداف مختلف مانند هدف مسی یا هدف کروم استفاده کنید، آیا طیف این دو یکسان خواهد بود؟

پاسخ:اهداف مختلف دارای طول موج های مشخصه متفاوتی هستند. زاویه پراش به طول موج مورد استفاده در آزمایش بستگی دارد. طبق معادله براگ، زوایای پراش گروه خاصی از وجوه بلوری با فاصله d متفاوت خواهد بود و زوایای پراش هر گروه از وجوه بلوری با مقادیر فاصله، تغییرات منظمی را نشان خواهد داد.

          بنابراین، موقعیت پیک پراش بر روی الگوی پراش به دست آمده توسطلوله های اشعه ایکسبا اهداف مختلف یکسان نیست و تغییر موقعیت پیک پراش منظم است. یک کریستال مجموعه ای از مقادیر d خود را دارد که در ساختار آن ذاتی است و می تواند به عنوان پارامتر مشخصه ماده کریستالی استفاده شود.