خانه
>

XAFS، به عنوان یک تکنیک توصیفی پیشرفته برای تجزیه و تحلیل ساختار محلی مواد، می تواند اطلاعات هماهنگی ساختار اتمی دقیق تری را در محدوده ساختاری کوتاه برد نسبت به پراش کریستالی اشعه ایکس ارائه دهد.

2024/04/10

ادامه مطلب

آخرین قیمت را دریافت می کنید؟ ما در اسرع وقت (ظرف 12 ساعت) پاسخ خواهیم داد

نام : This field is required

تلفن : This field is required

*پست الکترونیک : Required and valid email address

شرکت : This field is required

*پیام : This field is required

سیاست حفظ حریم خصوصی

اخبار