ساختار ظریف جذب اشعه ایکس طیف (XAFS) یک ابزار قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد است که به طور گسترده در زمینه های محبوب مانند کاتالیز، انرژی و نانوتکنولوژی استفاده می شود. اصل طیف ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS): ساختار ظریف جذب اشعه ایکس طیف به طیف‌های با وضوح بالا در نزدیکی لبه‌های مشخصه الکترون‌های هسته اتمی که پرتوهای ایکس را جذب می‌کنند اشاره دارد. وقتی انرژی پرتوهای ایکس با انرژی برانگیختگی الکترون‌های لایه داخلی عنصر اندازه‌گیری شده یکسان باشد، به شدت جذب می‌شوند و در نتیجه یک حد جذب (یا لبه جذب) ایجاد می‌شود. در نزدیکی لبه جذب، به دلیل پراکندگی متعدد و دلایل دیگر، ضریب جذب اشعه ایکس پدیده‌های نوسانی، یعنی ساختار ظریف را نشان می‌دهد. 2. مزایای اصلی طیف ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS): (1) بالاترین محصول شار نوری، با شار فوتون بیش از 1000000 فوتون در ثانیه/eV، و بازده طیفی چندین برابر بیشتر از سایر محصولات. کیفیت داده معادل تابش سنکروترون را بدست آورید (2) پایداری عالی، پایداری شدت نور تک رنگ منبع نور بهتر از 0.1٪ است و رانش انرژی مکرر کمتر از 50 مگا ولت است. (3) حد تشخیص 1٪، شار نور بالا، بهینه سازی مسیر نوری عالی، و پایداری عالی منبع نور تضمین می کند که داده های EXAFS با کیفیت بالا همچنان زمانی که محتوای عنصر اندازه گیری شده بیش از 1٪ است به دست می آید. 3. زمینه های کاربردی XAFS: کاتالیز صنعتی، مواد ذخیره انرژی، نانومواد، سم شناسی محیطی، تجزیه و تحلیل کیفی، تجزیه و تحلیل عناصر سنگین و غیره. 4. ویژگی های اصلی XAFS: (1) سفارش برد کوتاه: EXAFS به فعل و انفعالات کوتاه برد بستگی دارد و به سفارش دوربرد متکی نیست. XAFS را می توان برای مطالعه ساختار سیستم های بی نظم مانند مراکز فعال آمورف، مایع، مذاب و کاتالیزور استفاده کرد. (2) ویژگی عنصر: روش فلورسانس را می توان برای اندازه گیری نمونه هایی از عناصر با غلظت کمتر از یک میلیونم استفاده کرد. با تنظیم انرژی تابشی اشعه ایکس می توان ساختارهای مجاور اتم های عناصر مختلف در یک ترکیب را مطالعه کرد. (3) ویژگی های قطبش: اشعه ایکس قطبی شده را می توان برای اندازه گیری زوایای پیوند اتمی و ساختارهای سطحی در نمونه های جهت دار استفاده کرد. طیف ساختار ظریف جذب اشعه ایکس، با اصول منحصر به فرد، ویژگی های قابل توجه و زمینه های کاربردی گسترده، به ابزاری ضروری و مهم در زمینه های متعددی مانند علم مواد، شیمی کاتالیزوری و تحقیقات انرژی تبدیل شده است و پشتیبانی قوی برای اکتشاف عمیق ریزساختارهای مواد و حالت های الکترونیکی ارائه می دهد.

طیف سنج ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS) یک ابزار قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد است که به طور گسترده در زمینه های محبوب مانند کاتالیز، انرژی و نانوتکنولوژی استفاده می شود.

طیف ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS) یک ابزار تحلیلی است که برای مطالعه ساختار و خواص مواد استفاده می شود. XAFS اطلاعاتی در مورد اتم‌ها و مولکول‌های یک نمونه با اندازه‌گیری جذب پرتو ایکس نمونه در محدوده انرژی خاص به‌دست می‌آورد. XAFS ابزاری قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد است. فناوری XAFS به طور گسترده در علم مواد، شیمی، زیست شناسی و سایر زمینه ها به ویژه در زمینه های تحقیقاتی مانند کاتالیز، باتری ها، حسگرها و غیره استفاده می شود. ارزش کاربردی از طریق فناوری XAFS، محققان می توانند درک عمیق تری از ریزساختار و خواص نمونه ها به دست آورند و پشتیبانی قدرتمندی برای طراحی و بهینه سازی مواد جدید ارائه دهند.