طیف سنج ساختار ظریف جذب اشعه ایکس ابزاری قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد است که به طور گسترده در زمینه های محبوب مانند کاتالیز، انرژی و فناوری نانو استفاده می شود. مزایای اصلی XAFS: بالاترین محصول شار نورانی: شار فوتون بیش از 1000000 فوتون/ثانیه/eV، با بازده طیفی چندین برابر بیشتر از سایر محصولات. کیفیت داده معادل تابش سنکروترون را بدست آورید پایداری عالی: پایداری شدت نور تک رنگ منبع نور بهتر از 0.1٪ است و رانش انرژی در طول جمع آوری مکرر کمتر از 50 مگا ولت است. حد تشخیص 1٪: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1 درصد.

طیف‌سنجی جذب پرتو ایکس یک تکنیک طیفی برای تجزیه و تحلیل ترکیب عنصری و حالت‌های الکترونیکی مواد با استفاده از تغییرات سیگنال قبل و بعد از برخورد پرتوهای ایکس تابش سنکروترون است.

ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS) یک ابزار قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد بر اساس منبع نور تشعشع سنکروترون است.