زمینه

اخبار

روش آزمایشی XAFS

طیف‌سنجی جذب پرتو ایکس یک تکنیک طیفی برای تجزیه و تحلیل ترکیب عنصری و حالت‌های الکترونیکی مواد با استفاده از تغییرات سیگنال قبل و بعد از برخورد پرتوهای ایکس تابش سنکروترون است.

2024/04/22
ادامه مطلب
ساختار ظریف جذب اشعه ایکس

ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS) یک ابزار قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد بر اساس منبع نور تشعشع سنکروترون است.

2024/03/18
ادامه مطلب
آخرین قیمت را دریافت می کنید؟ ما در اسرع وقت (ظرف 12 ساعت) پاسخ خواهیم داد
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required