
- خانه
- >
اخبار
طیف سنج ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS) یک ابزار قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد است که به طور گسترده در زمینه های محبوب مانند کاتالیز، انرژی و نانوتکنولوژی استفاده می شود.
طیف ساختار ظریف جذب اشعه ایکس (XAFS) یک ابزار تحلیلی است که برای مطالعه ساختار و خواص مواد استفاده می شود. XAFS اطلاعاتی در مورد اتمها و مولکولهای یک نمونه با اندازهگیری جذب پرتو ایکس نمونه در محدوده انرژی خاص بهدست میآورد. XAFS ابزاری قدرتمند برای مطالعه ساختار اتمی یا الکترونیکی محلی مواد است. فناوری XAFS به طور گسترده در علم مواد، شیمی، زیست شناسی و سایر زمینه ها به ویژه در زمینه های تحقیقاتی مانند کاتالیز، باتری ها، حسگرها و غیره استفاده می شود. ارزش کاربردی از طریق فناوری XAFS، محققان می توانند درک عمیق تری از ریزساختار و خواص نمونه ها به دست آورند و پشتیبانی قدرتمندی برای طراحی و بهینه سازی مواد جدید ارائه دهند.